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SIKORA将于K2019推出的新品亮点一览

于2019年10月16日至23日举行的K 2019期间,SIKORA(10号展厅,H21展位)为软管和管材、板材以及塑料行业推出了一系列用于质量控制和工艺优化的广泛创新系统组合。

访客可以携带他们的塑料颗粒在科学测验系统PURITY CONCEPT V.进行现场测试和分析。

在“Innovation Corner”区域, SIKORA也欢迎访客就他们关于软管、管材测量技术以及塑料应用提出创意见解。

CENTERWAVE6000 ——用于测量直径达1,600mm的软管和管材

CENTERWAVE 6000/1600的全球首发,意味着SIKORA推出了一个全新尺寸的测量系统。该系统专门用于挤出过程中塑料管和管道的质量控制。

基于其独特设计,该系统可精确测量直径为630至1,600 mm的管材。CENTERWAVE 6000是基于创新的毫米波技术,可以连续、完整、360度地测量管道周长、壁厚、直径、椭圆度、内型和下垂度。

“CENTERWAVE 6000令人惊叹的不仅是其测量尺寸,”SIKORA软管和管材销售业务负责人Christian Schalich表示,“最重要的是由于挤出工艺技术带来的好处。”

基于X射线的PURITY CONCEPT X可离线检测出塑料颗粒内部的金属污染物

西科拉为CHINAPLAS带来两种处子登场装置——CENTERWAVE 6000 线上管材测试技术装置和用于检查粒料、碎片和条带/薄膜的PURITY CONCEPT系统。

PURITYSCANNERADVANCED:在线光学检测和分拣

www.2061.com,CENTERWAVE 6000基于突破性的毫米波技术,用于在挤出过程中测量120-1,000毫米大型塑料管材的直径、椭圆度和壁厚。还可以测量多层管材的层厚度。此系统在管材圆周上的几个点处进行测量,不需要任何耦合介质,而且不受材料和测量目标温度的影响。不需要进行校准。 此外,西科拉PURITY CONCEPT系统亦首度亮相上海。该装置采用模组式设计,可用于线上和离线检查、分析粒料、碎片和条带/薄膜。系统采用X射线、红外或光学技术,适用于各种场合。 公司另一个亮点是PURITY SCANNER,用于线上检查和分选塑料材料。系统将X射线技术与光学测量系统结合到一起,探测塑料粒料表面和内部50�m以上的污染物。含有污染物的粒子在进入下一工序之前被自动拣出。 西科拉提供多种测量装置,在胶管和管材行业用于保证品质,如X射线测试系统X-RAY 6000。

SIKORA展台的另一个亮点:PURITY SCANNER ADVANCED,用于在线光学检测和塑料材料分类的系统。

该系统将X射线技术与多达四个黑白和/或彩色相机相结合。这种组合可确保检测出颗粒内部的金属污染、颜色偏差及表面上的黑色斑点。受污染的颗粒被检测到后就会被自动分拣出来。

凭借强大的处理器系统和智能软件,PURITY SCANNER ADVANCED可谓一款可靠的质量检测设备。

专业数据分析管理按生产过程中污染物的尺寸和频率分类,以及结合光学相机和X射线照相机检测到的颗粒图像库,对检测到的污染物进行统计评估。

“关于对材料纯度的质量要求正在增加。因此,在线检测和分类具有进一步的意义。PURITY SCANNER ADVANCED是市场上同类产品中极为有效的分拣系统。” HilgerGroß说。

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